故障分析和材料表征
完整的纳米级FTIR，纳米级化学成像和材料表征平台
工业公司内部的故障分析和材料表征小组致力于解决问题，以帮助改善过程开发并解决与过程相关的问题，以帮助其组织节省成本并增加收入。
这nanoir3-s提供完整的纳米级FTIR，化学成像和材料表征平台。它结合了两种互补的纳米级红外技术，AFM-IR和散射SNOM与AFM基材料属性映射结合。该系统是生产性和可靠的，可以在一天之内为您提供生产性数据。bob平台靠谱吗申请包括：
- 纳米有机污染物
- Lowk电介质
- 半导体材料
- 数据存储媒体和幻灯片
对于当前表征技术具有有限能力的半导体和数据存储公司而言，有机纳米官员是一个严重的赤字问题。这纳米3系统在空间分辨率下降至10 nm的空间分辨率获得IR光谱，从而实现了此类缺陷和其他半导体材料的测量。
使用Bruker的AFM-IR技术生成的光谱直接与传统的bob电竞安全吗FTIR光谱直接相关，因此与标准FTIR库相媲美。除了化学分析外，Nanoir3还提供了纳米级空间分辨率的互补机械，电气，热和结构性信息。
