勘探和采矿的双源应用:含bob平台靠谱吗金浅热样品

的结合用扫描电镜micro-XRF使分析样品的潜力在多个尺度,从厘米(厘米)毫米(毫米)到微米(微米)和以下在一个单独的系统。因此,通过将微- xrf添加到扫描电镜,就转化为双源系统,这意味着有两个激励源,电子束和光子束。这两种光源都可以单独使用,也可以同时使用,生成x射线样本,用同一台EDS探测器进行测量。此外,可以利用每种分析技术的优点:(i) XRF源具有非常低的背景,这意味着可以观察到元素浓度达到10ppm(取决于元素和基质),以及更大的信息深度,这意味着可以看到样品表面下的结构或元素。例如,即使浓度很低,也可以检测到表面以下的夹杂物;(ii)电子束可以聚焦到极小的区域,并产生极高分辨率的信息。

这样的组合现在可以在单个系统中创建新的工作流。例如,使用微x射线荧光可以快速扫描一个大型岩石样品,在本例中是来自Karangahake浅低温热液矿床的含金spimimen。这使得识别感兴趣的区域包括含金晶粒(图1和图2)。随后,可以使用电子束以更高的分辨率分析这些“感兴趣的区域”(图3)。因此,这种双束系统可以同时识别大尺度(cm到mm)的相关信息,从而使详细的小尺度(mm到μ m)可以有效和准确地执行。

图1:Au覆盖的x射线总强度SEM-XRF HyperMap。样本来自新西兰Karangahake金矿。分析面积约为45 × 45毫米²。
图2:左侧Au-Lα线的SEM-XRF元素强度图。Au-Lα和Zn-Kβ线重叠,但如图所示,这些重叠峰的反褶积是正确的,这证实了Au-Lβ线的存在,验证了这些颗粒是金。中间的地图是45x45mm²。
图3:左侧Au-Lα线的SEM-XRF元素强度图。然后用SEM-EDS对选定区域进行绘图,该方法提高了分辨率,突出了金颗粒与周围硫化物之间的关系,如方铅矿(PbS)、闪锌矿(ZnS)、黄铁矿(FeS2)和黄铜矿(CuFeS2)。左边的地图是45x45mm²。