Xflash＆Eflash探测器

最新一代X射线检测器的核心部分是一种根据漂移室原理起作用的硅芯片。

Xflash 6-30结合了出色的能量分辨率和30mm²活动面积芯片的较大的实体角度。

纳米分析的大面积SDD

非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。XFLASH 6-100是针对此类情况有限的这种情况进行的。

Xflash 6T-30是S/TEM的检测器，具有最佳的能量分辨率。由于其直径较小（细线设计），它也特别适合于较旧的TEMS上的Tem-Eds改装。

安装在纤细的探测器手指上的60mm²芯片中的中等活性区域可提供较大的实体角度和高起飞角度

新的Eflash HD检测器提供了几乎2百万像素（1600 x 1200像素）的本机CCD分辨率（1600 x 1200像素），并具有最小化的扭曲状态，可提供最小的EFLASH HD检测器，提供了显示最好细节的高清kikuchi模式。

新的EBSD检测器EFLASH FS已设计为最大程度的灵敏度，以允许高速EBSD测量，而不会损害数据质量，即使在诸如变形或轻质材料之类的具有挑战性的应用程序上也是如此。bob平台靠谱吗

新的Eflash XS，有史以来最可靠，最负担得起的EBSD探测器