Xflash 6-60
纳米分析的大面积SDD
Xflash 6-60检测器
大型活跃区域60毫米2芯片与纤细的探测器手指一起提供了较大的实体角度。Xflash®因此，在X射线产量相对较低的应用中预定了6-60，在纳米分析区域中很常见。bob平台靠谱吗由于检测器还提供了非常好的能量分辨率，在MNKα处提供126 eV，并提供C和F分辨率，因此它也可以在低能范围内舒适地使用，这也是该领域的需求。
总而言之，Xflash®6-60提供以下优势：
- 很好的能量分辨率（MNKα的126 eV，CKα的51 eV和FKα的60 eV）
- 其他可用的分辨率为MNKα的129 eV
- 极高的脉搏负载能力
- 出色的光元和低能量性能（元素范围 - am）
- 没有精心制作的振动生成冷却系统
- 电源后立即可用
- 低工作成本
- 无维护操作
- 小尺寸，包括细线技术手指
- 重量低
建议的Xflash申请领域®6-60是：
- EDS SEM，Microprobe，Fib-Sem的系统（作为选项可用的焊接波纹管）
- EDS和高分辨率EBSD分析与EFLASH FS组合组合
- 纳米分析