在扫描电镜上用微x射线荧光分析薄金属镀层厚度

微x射线荧光光谱是一种不需要任何样品制备就能测量各种样品薄膜厚度的无损分析方法。此外，还可以同时确定该层的组成。这类应用的例子有:PCB板上的连接bob平台靠谱吗器插脚或焊接凸点，引线框架和芯片载体，太阳能电池上的涂层，甚至用于不同材料的防腐涂层。该方法的非破坏性操作和x射线穿透样品并获得表面下材料信息的能力，使得该方法对单层和多层材料的厚度和成分分析具有吸引力。

本次网络研讨会将讨论XMethod软件模块中层模型的开发，以及这些分析方法的应用XTrace一个微型xrf源附着在扫描电镜上。重点将展示几个应用实例，如不同基材上的金属涂层，印刷电路板(PCB)上的铜上的Au/Ni涂层。太阳能电池的复合层也将被讨论。将对校准标准的结果进行比较，以证明其精度和重现性。

本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。

• 质量控制专家，确保电子工业中薄金属涂层的厚度和成分
• 涂装质量控制技术人员负责pcb涂装服务的质量保证和失效分析
• 研究人员在研发