用Micro-XRF在SEM上对薄金属涂层的层厚度分析

Micro-XRF是一种常用的非破坏性分析方法，用于测量不同类型样品的膜厚度，而无需任何样品制备。另外，可以同时确定层的组成。此类应用的示例是：PCB板，铅框架bob平台靠谱吗和芯片载体，太阳能电池的涂料，甚至用作不同材料腐蚀保护的涂料上的连接器销或焊料颠簸。这两者既是该方法的无损操作以及X射线渗透到样品中并获得表面下方材料的信息的能力，使该方法对单层和​​多层的厚度和组成分析有吸引力。

本网络研讨会将讨论Xmethod软件模块中图层模型的开发，并使用该分析方法的应用Xtrace，Micro-XRF源的附件。重点将放在显示几个申请示例上，例如不同基板上的金属涂料，印刷电路板（PCB）上铜上的Au/Ni涂层。还将讨论太阳能电池的复合层。将进行校准标准结果的比较，以证明精确性和可重复性。

该网络研讨会将通过15分钟的问答环节进行圆满，我们的专家将回答您的问题。

• 质量控制专家确保电子行业薄金属涂料的厚度和组成
• 涂层质量控制技术人员负责PCB的涂料服务中质量保证和故障分析
• 研发研究人员