bob电竞安全吗Bruker Nano Analytics介绍:

扫描电镜下金属薄层厚度的显微x射线荧光分析

网络研讨会

薄金属镀层的层厚分析

微x射线荧光光谱是一种常用的不需任何样品制备就能测量不同样品薄膜厚度的无损分析方法。此外,可以同时确定层的组成。这类应用的例子有:PCB板上的连接bob平台靠谱吗器引脚或焊点,引线框架和芯片载体,太阳能电池上的涂层,甚至用于不同种类材料的防腐涂层。该方法的非破坏性操作和x射线能够穿透样品并获得表面下材料的信息,使该方法对单层和多层的厚度和成分分析具有吸引力。

本次网络研讨会将讨论XMethod软件模块中层模型的开发以及这种分析方法的应用XTrace,微xrf源连接到扫描电镜。重点将展示几个应用实例,如不同基材上的金属涂层,印刷电路板(PCB)上铜上的Au/Ni涂层。复合层太阳能电池也将被讨论。将对校准标准的结果进行比较,以证明精确度和可重复性。

本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,我们的专家将回答您的问题。

Al/Si层样品的假彩色EDS图
Micro-XRF/SEM层厚测量原理

谁应该参加?

  • 电子工业中保证薄金属涂层厚度和成分的质量控制专家
  • 涂料质量控制技术人员负责pcb涂料服务的质量保证和故障分析
  • 研发人员
Al/Si层样品的Al线强度

演讲者

马克斯·比格勒医生

应用科学家Micro-XRF, Bruker Nano Analybob电竞安全吗tics

Stephan Boehm

Bruker Nano Analytics公司的microxrf / SEM和WDbob电竞安全吗S产品经理

扫描电镜上的微x射线荧光

金属薄涂层相关产品的层厚分析bob综合是什么