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原子力显微镜

维FastScan

첫번째및유일한타협없는고속afm

突出了

维FastScan

维FastScan®원자력현미경(AFM)시스템은특히해상도손실,힘제어손실,추가복잡성또는추가운영비용없이빠르게스캔하도록특별히설계되었습니다。FastScan을사용하면고성능AFM의예상되는고해상도로즉각적인AFM이미지를얻을수있습니다。관심영역을찾기위해샘플을조사할때> 125 hz에서스캔하거나,공기또는유체의이미지프레임1당초속도로스캔하든FastScan은AFM환경을재정의합니다。

타협반대
고속 성능
샘플크기와상관없이언제든지최고의해상도를제공。
실시간
나노스케일역학
공기또는유체에서동적동작을직접시각화할수있는궁극적인팁스캐닝속도와안정성을제공。
자동화
설정，데이터수집및분석
생산성을향상시키면서시스템작동을놀라울정도로간단하게만들어연구에집중할수있음。
브로셔다운로드

特性

특징

고속및고해상도벤치마크

维FastScan은샘플크기와는별개로해상도또는시스템성능을저하시키지않으면서초당프레임스캔속도를달성하는최초의유일한고속팁스캐닝시스템입니다。다른고속AFM은FastScan의큰샘플액세스권한이없습니다。PeakForce攻®결합된이시스템은선형제어루프를통해순간적인힘측정을달성하여단단하고평평한결정뿐만아니라점결함치수및기계적해상도를허용합니다。

방해석의포，트결함해상도강성이미지。15 nm이미지크기(패널1). iPMMA필름의아분자해상도접착이미지。100 nm이미지크기(패널2).샘플제공:Thurn-Albrecht教授，Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg。

뛰어난생산성

10분이내에6개의다른샘플의완전무인,자동화및완전자체최적화이미징으로각각의경우에게시품질결과를얻을수있습니다。

와이드오픈팁과샘플액세스에서사전구성된소프트웨어설정에이르기까지维度FastScan의모든측면은문제없이놀라울정도로간단한작업을위해특별히설계되었습니다。빠른샘플탐색,빠른연결,빠른스캐닝,저소음,분당200点미만의드리프트속도,확장된직관적인사용자인터페이스및세계적으로유명한维度플랫폼이결합되어AFM에서완전히새로운경험을제공하는동시에결과및공개에더빠른시간을제공하는고품질데이터를보장합니다。FastScan사용자는전문가의일반적인작업시간없이즉각적인고품질의결과를얻을수있습니다。

더많은애플리케이션및더빠르고새로운통찰력

샘플측량은이질성,고유한특징및기계적특성을이해하기위해알려지지않은샘플을탐색하는일반적인방법입니다。다음은FastScan샘플조사의결과이며,20μm면적의고해상도지형이미지에서원래스캔보다10배작은하위섹션에이르기까지고품질의이미지세트를생성했습니다。8분스캔의결과는여러채널16메의가픽셀의데이터로,고해상도데이터를명확하게관찰합니다。

수경처리된실리콘표면의폴리스티렌필름(< 100海里두께)에습윤력및비습윤력을조사
비정형약물제형은는60분에60개의사이트를캡처하여연구합니다。샘플제공:M. E.劳尔，O.格拉斯曼，F.霍夫曼-拉罗彻，瑞士巴塞尔。

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AFM모드

Afm모드로애플리케이션확장

타의추종을불허하는이미징모드제품군을갖춘力量는모든연구bob电竞安全吗를위한AFM기술을보유하고있습니다。

핵심이미징모드(接触模式와开发模式)의근본을기반으로구축된力量는사용자가샘플의전기적,자기적또는재료특성bob电竞安全吗을조사할수있는AFM모드를제공합니다。bob电竞安全吗力量의혁신적인새로운PeakForce攻기술은지형,전기및기계적특성데이터를병렬로제공하는여러모드에통합된새로운핵심이미징패러다임을나타냅니다。

Afm모드에대해자세히알아보기

维FastScan데이터갤러리

손실계수에의한잘못된색상으로샘플지형을나타내는3d면。파란색영역은손실계수가높고빨간색영역은행PS렬과PMMA포함에해당하는손실계수가각각낮습니다。브루커의FASTForce体积Nanomechanics모드를통해접촉공진에의해생성된손실계수지도。5μm스캔，~ 590kHz, 256x256픽셀。
측면해상도를최대화하려면가까이있지만너무가까이있지마십시오。PeakForce敲击만이유일하게이작업을수행할수있습니다。提示样本상호작용의상세한모델링은物理评论B 56(7)， 4159, 1992및化学评论88,927(1988)을참조하십시오。
육각형질화붕소그라핀의PeakForce QNM모듈이미지,고도로국화된변형률완화와정렬시상응하는격자로의전환을보여줍니다。또한自然物理10,451-456(2014)를참조하십시오。
전체웨이퍼에걸쳐埃斯特罗姆수준의거칠기를측정합니다。2시간이내에96개의측정을할수있습니다。
快速点击을사용하여고해상도아이콘헤드에서도스캔속도를높입니다。
间规聚丙烯域(보라색)은PMMA(청록색)매트릭스로둘러싸여있습니다。구성요소를쉽게식별할수있도록계수로도색된지형데이터는PMMA매트릭스를통해전파되는间同立构polypropylen에의해형성된얇은판을드러냅니다。이미지크기8 μm。
수직으로서있는탄소나노튜브에대한현재이미징。오직PeakForce TUNA만가능합니다。
왼쪽:수직(XZ)절단에서개별원자의위치를보여주는PeakForce捕捉원자힘큐브。오른쪽:용매구조의faceface거를보여주는평균PeakForce Capture데이터。
PeakForce攻높이이미지(왼쪽)와힘곡선(오른쪽)은표면원자배열과방해석과운모사이의원자스케일tip-sample상호작용의차이를보여주고있다。
Hopg의c36h74알케bmp。
FastScan은图标스캐너를사용하는브루커의특허출원중인PeakForce QNM이미징모드와FastScanner를사용한나노기계매핑을지원합니다。이기술을통해연구자들은이제고해상도로샘플지형을이미징하면서나노기계적특성간의높은스캔속도로정량적또는상대적으로구분할수있다。
尺寸FastScan AFM의1초。液体中云母的DNA (APS法制备)。샘플제공:Y. Lyubchenko，内布拉斯加大学医学中心。
더높은감도해,상도및동적범위를위해브루커독점AFM모드로나노스케일에서전기적특성을수행합니다。PeakForce金枪鱼및PeakForce SSRM은고유한전기적특성화기능을제공하는동시에동일한샘플위치에대한상관된기계적특성정보를제공합니다。
나노미터및분자스케일에서조작및리소그래피를수행합니다。XYZ폐쇄루프图标스캐너는사용가능한나노조작시스템의최적의배치를위해压电蠕变가없고소음이극히적은정밀한프로브포지셔닝을제공합니다。
다양한AFM모드에서스캔하는동안-35°C에서250°C로샘플에대한냉난방실행온도제어및열분석。또는최대500°C의스캐닝프로브를사용하여하위100海里노드가열을수행합니다。
다양한AFM모드에서스캔하는동안-35°C에서250°C로샘플에대한냉난방실행온도제어및열분석。또는최대500°C의스캐닝프로브를사용하여하위100海里노드가열을수행합니다。
접착력,계수,변형및지형을포함한그래핀플레이크에서수행되는AFM이미징모드및기술의범위。

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고객의평가

우리는2년이상브루커Fastscan AFM을사용하고있습니다。우리의경험에서Fastscan이미지는다른AFM에비해해상도를저하하지않고4 ~ 5배더빠릅니다。또한지능형자동스캔매개변수조정을갖춘ScanAsyst모드를사용하면많은샘플을쉽게빠르게스캔할수있습니다。우수한Fastscan AFM성능DNA나은노기술연구에서많은간행물로우리그룹의명성을향상시켰습니다。

肖守军博士，南京大学，中国南京

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