维FastScan原子力显微镜
高亮
维FastScan
维FastScan®原子力显微镜(AFM)系统经过专门设计,在不降低分辨率,不失去力控制,不增加设备复杂性,不带来繁琐操作的前提下,即可实现快速扫描。使用FastScan，您可以即时快速地获得AFM图像，实现高性能AFM的预期高分辨率。无论您是以> 125 hz扫描样品表面寻找查找感兴趣的区域时,或是在气相或流体中以每1秒秒的速率采集AFM图像,都能用FastScan得到优异的高分辨图像。尺寸FastScan这一变革性技术重新定义了AFM仪器的使用体验。
功能
高速、高分辨率原子力显微镜的标杆
维FastScan是高速针尖扫描原子力显微镜系统。维FastScan能在各种尺寸的样品上实现高达每秒一帧的扫描速率，而不牺牲分辨率或任何仪器性能。结合峰值力®轻敲模式,维度FastScan使用线性控制回路实现了实时的力测量,从而在各种刚度的样品表面上,无论是坚硬平滑的晶体表面还是柔软粗糙的聚合物表面上,都能获得高分辨的形貌及力学性能。
卓越的生产力
维FastScan的每个方面(包括开放的大样品台设计和预先优化的软件设置)都经过专门设计,实现极其简易的操作。快速找寻样品,快速进针,快速扫描,低噪音,极低的漂移速率(低至200点每分钟),扩展性极强的直观用户界面,再与世界知名的尺寸大样品台相结合,维度FastScan为操作者提供了全新的AFM使用体验,更快地得到可供发表的数据。无须经过繁复的调整和优化，维度FastScan的用户可以立即获得高质量的结果。
快速开发新应用和获得新信息
样品搜寻是探索未知样本以了解其区域异质性、特征区域特性以及机械性质的常用方法。以下是FastScan抽样调查的结果,该调查生成了一组高质量图像,从20μm的高分辨率整体形貌到比原始扫描范围小10倍的局部。从一次仅需花费8分钟的扫描中可以得到多个通道高分辨数据，每条数据通道均打到了 1600 万像，可以清晰地揭示样品的各种性质。
应用
用afm拓展您的应用
凭借一整套出色的afm成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的afm技术。
基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套AFM测试模式,允许用户探测样品的电学,磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
维FastScan数据库
附件
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反馈
听听客户怎么说
我们已经使用布鲁克快扫描afm超过两年。根据我们的经验，Fastscan图像速度比其他AFM快四到五倍，而不会降低分辨率。此外，ScanAsyst模式具有智能自动扫描参数调整功能，使我们能够轻松快速扫描许多样本。卓越的Fastscan AFM性能在DNA纳米技术研究领域拥有许多出版物,使集团的声誉更胜一筹。
