ブルカーのSEMシリーズPicoIndenter(ピコインデンター)は,走査電子顕微鏡(SEM、FIBSEM PFIB)に取り付け可能なナノインデンテーション装置です。semと組み合わせることで,試料を観察しながら,定量的なナノ力学特性評価が可能です。PI89はブルカーハイジトロン独自の静電容量型トランデューサ——の技術を更に進化させ,商用として初めてSEM用のナノ力学特性評価プラットフォームの開発に成功しました。対応する試験技術は,ナノインデンテーション,引張試験,ピラー,粒子の圧縮試験,マイクロビーム曲試験,破壊、疲労,動的テスト,機械的特性マッピングなどがあります。SEMとPicoIndenterの組み合わせにより,ブルカーは皆様に正確な測定箇所でのナノ力学測定,その挙動のイメージングをご提供します。
ハイシトロンπ89のコンパクトな設計により,ステージの傾きを最大化し,作業距離を最小化することで,試験中の最適なイメージングを可能にします。PI 89は,競合システムよりも優れた汎用性と性能を備えています。
ハイシトロンπ89はブルカー独自のサブナノメータ感度トランスデューサと圧電駆動フレクシャーを利用して,本質的変位制御および荷重制御試験を行います。
ハイジトロンπ89で取得された原位機械的データは,SEMイメージングと同期して並べて表示されます。これにより,欠陥,機械的ひずみ,熱刺激や電気刺激が,ナノメートルからマイクロメートルの範囲で,設計された材料の性能,寿命,耐久性に与える影響を確認することができます。この同期化により,より幅広い解析が可能になります。
Hysitronπ89ピコインデンターは,革新的な原位テスト技術のパッケージをサポートし,高度なイメージングとFIBミリングのための2つの回転およびチルトステージ構成に対応しています。