Hysitron PI 89 SEM picindenter利用了扫描电子显微镜(SEM, fisem, PFIB)的先进成像能力,使得在进行定量纳米力学测试的同时进行成像成为可能。PI 89进一步推进了Bruker市场领先的电bob电竞安全吗容式传感器技术,使首个商用原位SEM纳米力学平台成为可能。支持的测试技术包括纳米压痕、拉伸测试、柱压缩、粒子压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和机械性能映射。
Hysitron PI 89的紧凑设计允许最大的工作台倾斜和最小的工作距离,在测试过程中实现最佳成像。PI 89为研究人员提供了比竞争系统更大的通用性和性能:
Hysitron PI 89利用Bruker的专bob电竞安全吗利亚纳米灵敏度传感器和压电驱动挠曲进行本质位移控制和负载控制测试:
Hysitron PI 89获得的原位力学数据与SEM成像同步,并并排显示。这使您可以看到缺陷、机械应变、热或电刺激对工程材料的性能、寿命和耐久性的影响——从纳米到微米尺度。这种同步可以实现更大范围的分析:
Hysitron PI 89的模块化设计支持全套创新的现场测试技术和两个旋转和倾斜工作台配置,用于高级成像和FIB铣削。