原子力显微镜

FastScan职业

用于工业研发的自动化纳米测量

Punti salienti

Dimension FastScan Pro

维FastScan Pro提供了最高的计量水平的速度和性能的任何工业AFM今天可用。该系统能够实现自动化或半自动化的测量,同时确保最大程度的易用性和每次测量的最低成本,用于质量控制、质量保证和故障分析。

专有的
AFM生产技术
实现行业领先的表面表征。
无可匹敌的
服务和支持
通过运营效率降低成本。
自动化
AFM扫描
提供可靠、无缝的测量工作流程。

Caratteristiche

特性

生产的多功能性

FastScan Pro利用开放访问平台,大型或多个样品支架,以及众多易用功能,为工业QA, QC和FA应用提供灵活的高性能纳米尺度计量。bob平台靠谱吗该系统提供自动化的2英寸至12英寸晶圆测量,用于半晶圆、数据存储和HB-LED。它的特点是增加了XY样品行程,可完全访问200mm晶圆或在200mm直径区域的多个样品,对300mm晶圆有可选的卡盘。该系统还提供了高通量5-10x FastScan扫描仪,用于地形、粗糙度和其他计量分析,或90 μ m扫描范围的Icon扫描仪,用于更大的扫描和高精度地形性能。

强大的自动化软件

AutoMET™全配方软件提供快速、自动化的计量、简单的操作和AFM适应性,可轻松捕获生产中所需的关键到质量的测量。该软件允许对多个样本或单个大样本进行跨越多个位置的纳米级表征的自动测量。它还提供光学和AFM图像模式识别、尖端定心、全晶圆或网格映射支持,以及几十纳米以内的图像放置精度。全面而又简单的配方编写为高级用户提供了实时和离线使用。

简单的测量配方创建允许工程师通过名称定义位置,在每个位置分配任何类型和数量的测量。
配方窗口显示基于晶圆的布局,用于晶圆内精确的、用户定义的X-Y测量位置。

精确的探针-样品控制

Dimension FastScan Pro提供最精确的探针样品控制,允许最广泛的样品类型,从软聚合物,薄膜和电样品到非常硬的材料。

独特的技术使您的样品上的任何原子的精确力。这种精确的探针-样品控制允许最广泛的样品类型,从软聚合物,薄膜,电样品到硬材料。它还提供了最低的可用成像力和长探针尖端寿命超过数百接合和数据扫描。

由NanoScope 6 AFM控制器提供动力


NanoScope 6控制器具有更高的速度、更低的噪声和更大的AFM模式灵活性,允许用户充分利用我们的高性能Dimension和MultiMode AFM系统的潜力。这最新一代控制器为每一个应用中的纳米尺度表面测量提供了前所未有的准确性、精密度和多功能性。

NanoScope 6使Bruker AFMs能够:bob电竞安全吗

  • 操作在更多的成像模式比竞争系统是可能的,包括独特和先进的AFM模式,需要复杂的控制和分析;
  • 在每一个应用中收集精确的、定量的纳米电和纳米机械性能测量数据;而且
  • 优化和定制扫描参数,以满足最苛刻的研究和行业测量要求。

Applicazioni

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