bob电竞安全吗PI系列仪器的Bruker电气表征模块(ECM)为同时进行现场电气和机械测量提供了强大的解决方案。使用连接探头和样品的导电路径,施加电压偏置,以允许连续测量随作用力和探头位移变化的电接触条件。通过电子显微镜成像确认适当的尖端位置,可以进行部位特异性测试。穿过尖端的电测量也可用于深入了解微或纳米结构的机电性能,如柱和粒子。在电子显微镜的真空环境下,湿度或水的吸附效应被最小化。
MEMS电推拉(E-PTP)设备进一步提高了ECM的性能,可以进行拉伸测试,同时使用标准的四点测量方法测量样品电阻率。电流源和电压传感电极的分离,通过消除测量上的接触电阻和引线电阻,可以精确地测量电性能。电压扫描也可以用来测量IV曲线,而真实的应力和应变是通过在电子显微镜下监测和测量样品尺寸来确定的。