原位纳米力学测试

电特性模块

在纳米压缩,压缩或拉伸载荷期间同时进行原位电气和机械测量
N掺杂VLS生长的硅纳米圆柱的压缩过程中的电特性。D.D.Stauffer博士论文,“纳米级脆性材料中的变形机制”,明尼苏达大学(2011),第150-152页。

bob电竞安全吗Bruker的PI系列仪器的电气表征模块(ECM)为同时进行原位电气和机械测量提供了强大的解决方案。使用连接探针和样品的导电路径,应用电压偏置以允许连续测量不断发展的电触点条件,这是施加力和探针位移的函数。可以通过用电子显微镜成像确认适当的尖端放置来执行特定地点测试。通过TIP电测量值也可以用于洞悉微或纳米结构(例如支柱和颗粒)的机电特性。通过电子显微镜的真空环境,将湿度或水吸附效应最小化。

MEMS电气推动力(E-PTP)设备进一步推动ECM的功能,可以通过标准的四点测量来同时测量样品电阻率。电流采购和电压传感电极的分离可以通过消除测量的接触和铅阻力来准确测量电气性能。还可以执行电压扫描以测量IV曲线,而真实的应力和应变是通过监测和测量电子显微镜中的样品尺寸来确定的。