QUANTAX EDS对TEM
XFlash®7 t -看到颜色:纳米杆EDS在TEM和SEM
单原子和纳米结构
为每个特定的显微镜得到最好的结果
突出了
80年
凯文
前所未有的能量上限
明确识别和量化所有当前元素
3
TEM-quantification模型
成功的TEM、茎和T-SEM易于使用的强大的基于理论和实验Cliff-Lorimer因素量化,以及Zeta-factor插值
1
一个
稳定的解决方案
地图周期结构(原子层)与高稳定性和使用增强的漂移校正功能
元素分析透射电子显微镜在纳米尺度上
灵活和易于使用的分析软件包精神与一个开放的用户界面:你看你做什么。
离线分析选项对学生个人或局域网访问或实验室网络。
复杂的最有经验的量化能量色散x射线能谱(EDS)为完成数据挖掘包括:
- 选择量化步骤:默认的建议,便于使用indvidual设置,详细修改和保存/重载的食谱
- 三种不同的量化方法覆盖所有可能的场景基于理论和实验Cliff-Lorimer因素以及Zeta-factors Zeta-factors失踪的插值
- TEM-specific高行高于40 keV能量元素用于确保明确的量化结果
- 的选择3至关重要的背景模型:大部分的物理和物理一个薄的薄片以及数学模型
- 吸收校正已经包含在Cliff-Lorimer量化
Vorteile
高分辨率电子透明元素分布分析样品在TEM,阀杆和SEM (T-SEM)
- 长期的专业知识在EDS确保的配置最好的解决方案为您的特定的显微镜(茎、TEM和SEM)这款超薄的线性检测器设计和几何优化为每个显微镜极片和EDS法兰类型
- 最大的收集和起飞角允许快速和高度敏感的数据采集
- 快速移动探测器稳定阶段
- 一个特殊的漂移修正常规周期特性的保证成功的EDS在纳米级
- 时间分辨数据采集的现场实验适合保存变化的数据流,远东在升高的温度下
- 自动化数据采集和分析过程使用的脚本和API选项生成的具体分析工作和批处理
- 干净的数据需要没有或最小的收购后修正由于完全避免机械和电磁干扰和避免或保持到最低限度样品倾斜,吸收、阴影和系统峰值
- 最有经验的EDS数据量化从电子市场上透明标本为全面的数据挖掘提供了明确的结果
- 最高质量的援助和培训由于长期的经验TEM使用您的系统全功率
Anwendungen
新XFlash Ultimative结果®7 EDS对TEM探测器
©图像和样本由迈克尔•Malaki Shamail Ahmed;材料科学中心,物理教师,菲利普斯马尔堡大学
EDS分析涂锂电池阴极粒子
不合格品阴极材料的电容保留电池(单边带和自由)可以改善涂层的结构。控制这些纳米厚的涂层的性能,必须知道他们的元素分布。我们现在SEM-based EDS分析解决方案实现微米大小阴极与不规则粒子表面纳米分辨率和比较TEM EDS。
