低温硅分析系统

冷冻剂

特点

低温硅分析系统

布鲁克光谱低分析(冷冻)是是专用于低温(<15k)下硅下硅杂质的的一体化一体化

冷冻cryosas内置个布鲁克高的光谱仪光谱仪光谱仪光谱仪,闭闭制冷制冷技术技术技术技术技术技术实现高全操作,包含包含准确报告分析结果。。

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产品::

高灵敏度:

cryosas依据ASTM/semi Mf1630标准标准(等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等等磷等等磷磷磷磷磷磷磷磷磷

在低温条件(〜12 k),冷冻症硅碳测试结果上图上图上图)

闭循环:不:不需要昂贵的制冷剂制冷剂制冷剂

高可靠性低温冷却检测器和样品仓。制冷系统相比相比,闭系统系统系统系统系统系统系统系统系统循环循环循环系统系统系统系统每每每每每年年年可以可以可以可以可以可以可以可以节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省节省制冷相比

冷冻症低温样及9个个样。。。。
冷冻症操作显示了的样品选择的方法方法方法

不锈钢::
方便样品替换

样品仓配的光学及自动样品头样品仓的大尺寸方便样品架进入。

机械泵涡轮泵::
简单清洁的系统

使用快速的泵和泵抽真空。

坚固9个样品个样品及精密的马达:

的转移多样品分析分析,高分析高马达及固体机械确保精确精确的的样品样品样品测试。样品及及样品架在在在在样品样品样品仓内仓内仓内的的安装安装非常非常性。

易用性:

冷冻症提供工业环境的操作。的和制冷都由程序程序控制。。。冷却和开始是是简单的的的按钮操作。操作者操作者

cryosas软件软件根据工业质量设计设计它可以触摸屏操作触摸屏操作只只需需需选择选择想要想要想要的的分析分析方法方法方法,,输入输入信息信息信息信息信息信息信息信息信息开始红外,结果,生成分析。。

技术参数

光谱:1500-280厘米-1检测器最佳测试范围

  • 依据astm/semi MF1630标准标准测试iii族和v族族浅层杂杂对于对于对于对于对于对于对于对于对于对于对于对于厚厚厚的楔形楔形
    -10 PPTA磷
    -30 PPTA硼
  • ASTM/SEMI MF1391标准标准此方法需要需要需要需要需要法制备法制备法制备无无碳碳标准样品样品以及以及以及厚度厚度厚度厚度和和表面表面表面都都都可比可比可比可比可比的的的的待测待测待测待测样品样品样品样品样品为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为为
冷冻症典型案例保函信息和结果结果结果