观察样品中元素的变化对于了解地质过程和矿床成因非常重要。在sem上集成了微区XRF的双源系统可在大面积上进行元素X射线面分析,从而在ppm尺度上显示主要,次要和微量元素。
该图显示了来自铜矿床中样品的微区光谱仪大面积X射线图(45 X 30平方毫米),显示铜(红色),钙(绿色),锰(蓝色),硅(紫色)和氯(深绿色)的元素分布信息。此外,在此样本中,可以检测出电子束EDS因为浓度过低和/或相关元素能量线过高无法检测到的微量元素。这些信息可以更好地了解它们的分布,为之后矿物学和织构关系以及矿床成因的研究打下基础。