陨石样品的高分辨x射线元素面分析

陨石样品是稀有的而珍贵的，所以通常最好使用无损方法进行分析。当对原始表面进行扫描电镜微观研究时,EDS分析常见样品制备步骤(如切割,研磨,抛光和碳涂层)将被严格排除。

在这种情况下，传统的eds探测器将面临局限性，尤其是在需要高空间分辨率的情况下。这是因为矿物陨石样品通常是是不导电而且表面粗糙的，荷电和阴影效应是eds的主要挑战。

为了克服这些限制, XFlash®FlatQUAD提供了最先进的解决方案。这种类似于bse探测器的独特环形eds探测器测试时直接放置在样品的正上方。它的特点是对低X射线产量的样品具有极高的灵敏度,可以最大限度地减少阴影效果,因此是表征表面粗糙,不含导电涂层的样品(如陨石)的完美工具。

在右图的案例里,我们研究了举陨石,它来自维也纳自然历史博物馆(NHM),这是1882年2月2日降落在匈牙利的陨石。XFlash^®FlatQUAD的应用成功揭示了宇宙物质的演变，因为它能够对元素成分进行高分辨率面分析表征，即使在这个样品裂痕的深处。