陨石标本的高分辨率x射线元素映射

陨石样品是罕见的，因此是珍贵的，他们最好是通过非破坏性的方法分析。当研究的重点是原始表面的微观研究时，严格排除了基于sem的EDS分析中常见的样品制备步骤，如切割、研磨、抛光和碳涂层。

在这种情况下，传统的EDS探测器面临局限性，特别是在需要高空间分辨率的情况下。由于矿物陨石标本是不导电和地形，充电和阴影效应是主要的挑战。

为了克服这些限制，一个最先进的解决方案是可用的XFlash^®FlatQUAD．这种独特的环形EDS探测器直接放置在样品的上方，类似于BSE探测器。它的特点是对低x射线产率具有极高的灵敏度，最大限度地减少任何阴影效应，因此是一个完美的工具，用于绘制粗糙，非涂层样品，如陨石。

我们调查了Mocs陨石，1882年2月2日在匈牙利历史性的秋天，由维也纳自然历史博物馆(NHM)提供。的应用XFlash^®FlatQUAD由于它能够在深腔内对元素组成进行高分辨率的映射，从而阐明了宇宙物质的演化。(Salge et al.， EMAS 2018 -地球科学中的微束分析，英国布里斯托尔，第16页)