擎天柱TKD探测器头
布鲁克的高性能eFlashEBSD系列探测器现在可配置optimus™TKD探头。擎天柱™TKD 探头专为 SEM 中同轴透射菊池衍射分析（同轴 TKD）最佳的样品与探测器几何构型而设计。OPTIMUS ™ TKD 探头具有无与伦比的灵敏度，不仅可以采集菊池花样，甚至还可以提供类似 SAED（选区电子衍射）的图样。
至少2 nm空间分辨率的晶粒取向分布图
与垂直磷屏设置相比，在样品正下方的水平磷屏有两个主要优势：
- 信号强度增加了一个数量级
- 菊池花样的畸变被有效抑制
更强的信号，可以让我们选择小光阑来采集取向分布图，从而提高空间分辨率。各种材料的同轴跆拳道实验数据结果表明,在使用高端FE-SEM时,其有效空间分辨率可达2 nm甚至更好。同时，在低加速度电压(5 kV)下进行同轴TKD测试也成为可能。较低的电压有助于降低平均自由程，从而提升菊池衍射的信号量。这在分析薄样品和"轻元素"样品时非常有用。此外,由球心投影引起的菊池花样畸变是EBSD中常见的问题,尤其影响使用垂直磷屏采集信号的离轴跆拳道技术。
然而,对于擎天柱™跆拳道来说,磷屏的中心与图案中心完全匹配,实现了最理想的几何构型,在信号采集方面甚至比常规EBSD的几何构型更好。最终采集的菊池花样几乎不存在畸变，这显著提高了菊池条带的检测和随后的标定准确性。
阿古斯™Fse成像系统
擎天柱™TKD配备ARGUS™™成像系统,可实现惊艳的类暗场像和类明场像,图像细节可提升至纳米尺度,在实际应用中几乎将您的SEM转变为“低电压版本的TEM”。百眼巨人™可在变形材料中可用于显示单个位错和位错网。类暗场像图像更能展示晶界面位置和倾角的三维信息。
易用性
每个现有的eFlash探测器都可以配备擎天柱™™TKD探测器头。训练有素的用户可以在 10-15 分钟内轻松完成交换。这允许随时随地在ebsd和TKD模式之间轻松快速切换。擎天柱™跆拳道具有布鲁克先进的碰撞保护系统:在不太可能发生碰撞时,探测器会立即以10毫米/秒的速度缩回,从而显著降低任何损坏的风险。擎天柱™TKD探测器头与布鲁克的SEM TKD专业工具包无缝集成，包括TKD采样架，XFlash®Eds探测器系列，用于tkd / Eds同步测量和esprit 2分析软件。
