vantec - 500探测器
高亮
亮点
vantec - 500大视野2 d探测器
vantec - 500探测器是新一代的2 d XRD系统的核心技术,它兼具经典X光片和电子X射线单光子探测器的优点。它拥有超过15000毫米²的巨大探测面积,短短几秒钟内即可捕捉到与传统胶片相机一样多的二维信息。它可以实时“看”到并计数单个光子,从而实现卓越的计数统计。归功于专有MIKROGAP™技术,vantec - 500能够以很高计数率工作,并且工作时几乎没有噪声。唯一的本底来源是宇宙射线和物质的天然放射性,这在整个探测面积内仅为不足5 cps。因此，对于分析弱散射样品和强散射样品，它都很适用。
MIKROGAP设计实现了极为稳定的探测器,无需维护,对机械冲击或运动不敏感,能够耐受高强度,高能量辐射而不受损坏。得益于丰富的经验和内部开展的探测器研发工作,vantec - 500必然堪称典范,没有任何缺陷探测区域。
功能
特性配图
优势
关键特性
MIKROGAP™技术
在MIKROGAP探测器中,格栅,阳极,延迟线和Xe-CO2气体混合物包含在一个带有铍入射窗的密封容器中。在转换区,入射X射线光子通过气体电离产生初级电子。这些电子在强电场下向阳极漂移。电子数量在增益间隙中倍增。这样的信号放大比任何固态探测器都大得多，因而可以检测到非常微弱的信号。读出通道通过X和Y延迟线确定每个X射线光子的位置。MIKROGAP技术的关键特性是利用电阻阳极实现极薄增益间隙,从而大大提高局部计数率。
大有效面积
对于2 d探测器而言,尺寸是最重要的特性之一。大探测窗口不仅可以提高数据采集速度,而且能够提供0-D,一维或小型二维探测器无法获得的信息。vantec - 500探测器具有一个直径为140mm的巨大窗口，覆盖范围可达80°（2θ）和很大γ-范围。探测器可沿轨道灵活定位，能够实现范围广泛的样品到探测器距离，从而优化各种应用的角覆盖和分辨率。这样一来，您可以：
- 在一帧内采集较大γ范围内的多布拉格重反射
- 测量多个极图，同时进行本底校正
- 一次扫描即可覆盖应力样品的宽衍射峰
- 加强对微区样品斑点衍射图的统计
硬件和软件完全集成
2 d XRD方法的成功应用,需要在硬件和软件两个层面采用智能化集成方法。
DIFFRAC.SUITE软件提供了最优测量策略。它可建议最佳设置，以优化不同衍射几何中的数据采集。譬如,您可在德拜视图中识别出具有相似斑点和织构的德拜环。仅具有相同特性的德拜环才属于同一晶相。使用我们独特的“搜索/匹配”功能来识别结晶相。其他软件功能包括
- 2 d XRD测量方案和规划功能完全集成到DIFFRAC.MEASUREMENT和DIFFRAC.WIZARD中
- DIFFRAC.TEXTURE支持2 d帧数据,以生成极图和取向分布函数(ODF)
- DIFFRAC。LEPTOS全面支持使用2 d模式测量残余应力
vantec - 500硬件集成充分体现了达芬奇家具设计原则
达芬奇家具。模式
- 即时注册元件及其所有特定特性
- 具有容错机制的定位功能
- 探测器距离自动识别
达芬奇家具。弹簧锁——更换元件无需使用工具
- 轻松快捷，无需工具
- 无需对齐
- 沿轨道可变位置
DIFFRAC。达芬奇
- 实时识别元件并显示状态
- 检测元件缺失、错位或不合适
- 所有固定和移动元件参数化
应用
应用配图
规格
探测器技术规格
| 技术规格 | 优势 | |
传感器类型 |
光子计数,基于Xe的MIKROGAP™探测器(美国专利:6340819) | 整体性能最高的充气式XRD探测器 |
| 窗口尺寸 | 直径140毫米 |
显示小型探测器检测不到的散射 检测时间很短 |
像素数量 |
2048 x 2048(68µm)， 1024 x 1024(136µm)， 512x512m(272µm) |
更高分辨率可以清楚显示密集的散射或衍射特征 |
| 2Ɵ覆盖和不同样品距离 | 10厘米- 56° 15厘米- 42° 20厘米- 33° 25厘米- 27° 30厘米- 23° |
优化样品到探测器距离以确保覆盖范围和角分辨率 |
| 能量范围 | 3日- 15日KeV(铬、铁、有限公司和铜辐射) |
可兼容大多数x射线衍射波长,灵活支持各种实验 |
| 本底 | < 5 cps整个面积(< 0.0005 cps / mm²) | 对弱散射样品敏感 |
| 抗辐射 | 10₁₂X射线光子/ mm²(总计10₁₆光子) | 简便易用 |
| 维护 | 不需要 | 简便易用，总占有成本低 |
