Dimension HPI系统专为大批量生产环境设计,能够自动测量许多AFM模式,同时确保最大程度的易用性和每次测量的最低成本,用于质量控制,质量保证和故障分析。使用接触、轻叩和PeakForce轻叩模式技术,Dimension HPI使用户能够精确控制探针-样品的交互作用,在数千次测量中提供高准确度结果的长尖端寿命。
从独家的峰值力敲击模式到传统的AFM模式,Dimension HPI提供了最大的范围和灵活性,以满足广泛样品的特定制造计量需求,而不具有通常与AFM研究设置相关的复杂性。
FastScan技术与导电afm (CAFM)可以在高扫描速率下进行纳米级电流测量,显著提高了故障分析测量的效率。使用小磁力显微镜(MFM)悬臂,FastScan HPI提供了超过10倍的扫描速率提高MFM应用程序,使用PeakForce tap提供卓越的数据质量。bob平台靠谱吗PeakForce KPFM™提供最高的空间分辨率和最精确的表面电位测量。PeakForce TUNA™提供最灵敏的电导率测量。
bob电竞安全吗Bruker独特的PeakForce QNM和FastForce Volume™纳米级机械映射模式可以精确映射机械性能——模量、刚度、附着力、耗散和变形——同时成像样品的形貌和电学性能。PeakForce QNM可以对传输电子或扫描电子显微复制技术无法测量的聚合物、薄膜和纳米级缺陷进行无损测量。
NanoScope 6控制器具有更高的速度、更低的噪声和更大的AFM模式灵活性,允许用户充分利用我们的高性能Dimension和MultiMode AFM系统的潜力。这最新一代控制器为每一个应用中的纳米尺度表面测量提供了前所未有的准确性、精密度和多功能性。
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