现病史치수
하이라이트
现病史치수
대량의생산환경을위해특별히설계된维度HPI시스템은많은AFM모드의자동화된측정을가능하게하는동시에품질관리,품질보증및고장분석을위해측정당최대한의사용편의성과측정당최저비용을보장합니다。现病史치수는접촉,도청및PeakForce태핑모드기술을사용하여사용자가프로브대샘플상호작용을정밀하게제어할수있게해주며,높은정확도로긴팁수명을제공하여수천개의측정을수행할수있습니다。
특징
가장넓은범위의측정
전용PeakForce태핑모드에서기존AFM모드에이르기까지维度HPI는AFM연구설정과관련된복잡성없이광범위한샘플에서특정제조계측요구를충족할수있는가장큰범위와유연성을제공합니다。
빠른나노전기계측
전도성afm (CAFM)을갖춘FastScan기술은높은스캔속도로나노스케일전류측정을수행할수있어고장분석측정의효율성을크게높일수있습니다。FastScan HPI는소형자기력현미경검사법(MFM)캔틸레버를사용하여PeakForce태핑을사용하여뛰어난데이터품질을갖춘MFM애플리케이션에대해10배이상의스캔속도향상을제공합니다。PeakForce KPFM™표면전위의가장높은공간해상도와가장정확한측정을제공합니다。피크포스金枪鱼™가장민감한전도도측정을제공합니다。
정밀한나노기계매핑
브루커의고유한PeakForce QNM및FastForce볼륨™나노스케일기계매핑모드는계,금강성,접착,분리및변형과같은기계적특성을정확하게매핑하는동시에샘플지형및전기적특성을이미징할수있습니다。PeakForce QNM은송전전자또는스캐닝전자현미경검사기법에의해측정할수없는폴리머,박막및나노스케일결함에대한비파괴적측정을가능하게합니다。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
NanoScope 6控制器具有更高的速度、更低的噪声和更大的AFM模式灵活性，允许用户充分利用我们的高性能Dimension和MultiMode AFM系统的潜力。这最新一代控制器为每一个应用中的纳米尺度表面测量提供了前所未有的准确性、精密度和多功能性。
NanoScope 6使Bruker AFMs能够:bob电竞安全吗
- 操作在更多的成像模式比竞争系统是可能的，包括独特和先进的AFM模式，需要复杂的控制和分析;
- 在每一个应用中收集精确的、定量的纳米电和纳米机械性能测量数据;而且
- 优化和定制扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
