文化遗产在显微镜下:先进的细节元素分析扫描电子显微镜
点播会话- 63分钟
高空间分辨率与EDS分析& micro-XRF
高空间分辨率的分析扫描电镜分析工作流程的一个基本组成部分和必要的任何完整的艺术作品和文化遗产调查对象。调查开始于宏观尺度,非侵入性技术micro-XRF映射允许进行SEM分析最小的样本比外科医生的精准度对最大化的结果。此外,探测器技术的进步使得元素描述通过SEM更快更高灵敏度减少额外的破坏有价值的材料,同时提供灵活的配置,比以往任何时候都更容易。
这次研讨会将使用扫描电镜微观分析文化遗产样品的例子,说明力量的能力bob电竞安全吗XFlash®探测器范围,包括XFlash®FlatQUAD环形SDD EDS探测器,QUANTAX紧凑EDS探测器为紧凑的SEM平台,XTrace in-SEM micro-XRF(QUANTAX Micro-XRF)。
元素映射的油漆从达芬奇的最后的晚餐测量截面XFlash®FlatQUAD
元素的地图炉陶瓷样品说明残余有机质(C):图像采集与QUANTAX 80探测器紧凑SEM (C为红色)
元素的地图炉陶瓷样品说明残余有机质(C):图像采集与XFlash®FlatQUAD环形探测器(C在绿色)
演讲者
马克斯Patzschke
应用科学家EDS,力量纳米分析bob电竞安全吗
奈杰尔·凯利医生
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