石油和天然气的勘探需要密集的科学调查,以确定储集层并降低勘探和生产的风险。在超深井时代、非常规油气时代、盐下勘探时代、极端环境前沿勘探时代,油气系统要素研究需要新的工具。bob电竞安全吗Bruker用于储层表征和化学地层学的工具包括从盆地到孔隙的岩石组成的可视化和表征能力。
化学地层学是利用沉积层序化学成分的变化来:
了解盆地或油田尺度上的相关关系
识别古生态重建中使用的元素代理
有助于建立层序地层格架
识别岩石的物理性质,以便钻探和编译
bob电竞安全吗Bruker为岩心和岩屑的元素和化学分析提供了工具,使化学地层学变得容易和可扩展。点击下面了解更多关于化学地层学应用于任何规模的项目。
元素分析是油田和石油地质学家表征和识别含油气地层的重要工具。钻屑、泥浆或岩芯可以通过x射线荧光(XRF)进行分析。
台式的S2彪马系列2通过使用能量色散XRF (EDXRF)在移动实验室中对准备好的钻屑达到低检测限度。
在实验室中,专业和痕迹的分析最好是站在地板上进行S8老虎系列2波长色散XRF (WDXRF)光谱仪使用GEO-QUANT包或自定义校准。
的CTXXRF是一种紧凑的便携式台面,是钻机作业的理想选择,具有电池备份,按钮式操作,防溅的坚固铝外壳,和安全联锁盖。现在可用MUDROCK矩阵匹配校准,多功能GeoEXPLORATION校准,或自定义校准。
的示踪剂5克是用于岩心、露头或岩屑的理想便携式XRF。带有氦气冲洗和石墨烯窗口,它具有手持设备中最好的光元件性能。当与MUDROCK校准或自定义矩阵匹配的特定地层校准配合使用时,它是石油和天然气中最值得信赖的便携式XRF。
通过x射线衍射(XRD)提供了沉积物或地层的矿物学组成的附加信息。x射线衍射(XRD)通过晶体结构区分化学性质相同或相似的矿物。它不仅允许矿物的鉴定与DIFFRAC。伊娃,但也提供了使用Rietveld方法的无标准量化。即使是非结晶相也可以用这种方法量化。它可以精确定位潜在的储层和储集层。一个主要的优点是样品制备相当简单和快速。钻切分析可以在移动实验室中使用BRUKER的工作台进行bob电竞安全吗D2移相器。在实验室环境中D8努力或者是D8提前是最优选择。
储层表征模型结合了与油气储存和生产相关的岩石特征。bob电竞安全吗布鲁克创新的岩石表征工具可以提供沉积岩的新型信息:
沉积岩的可视化地球化学,包括元素和分子分布的可视化
从微米到纳米的矿物质地图,包括结合方法将2D数据转换为3D数据的能力
二维和三维孔隙和渗透率的可视化和表征,包括页岩中的纳米达西孔隙和砂岩中的复杂孔隙网络
下面是用于储层表征的方法概要。联系Bruker的石油和天bob电竞安全吗然气专家,讨论任何分析需求和最佳解决方案。
了解孔隙度和渗透率对油气储层表征、沉积学、水文地质学和地下水研究都很重要。XRM能够表征和可视化孔隙、孔径分布以及开放与封闭的孔隙网络。这些信息可以对油气生产模型、气驱或水驱、模拟研究、污染流模拟、变形实验和沉积岩石学产生深远影响。
页岩反应性分析通常涉及多种分析技术,包括但不限于x射线衍射、x射线荧光、伽马测井、光学显微镜、电子显微镜、总有机含量和阳离子交换容量。从矿物学的角度来看,XRD被广泛认为是最受青睐的技术,特别是用于元素相似相的鉴别。
例如,赤铁矿(Fe2O3)和菱铁矿(FeCO3)具有相似的元素特征,但衍射模式却截然不同。衍射数据通常用于井眼的垂直段和水平段。分析垂直剖面可以确定具有理想物理性质的区域。在非常规油藏水平段,XRD主要用于地质导向,以确保井筒保持在特定的地质层内。
方法 | 描述目标 | 样品制备 |
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台式micro-XRF | 地图纹理,组成和沉积结构与主要和微量元素低至18微米 | 略粗糙的平面,标准薄片,坯料,芯塞,芯板,岩屑分散安装。 |
XRM / x射线显微镜 | 构造和孔隙度的三维映射 | 岩芯塞,岩石碎片 |
拉曼显微镜 | 利用拉曼散射现象进行有机质分析、热成熟度和流体包裹体分析的分子结构。 | 标准薄片、岩屑、岩芯塞。 |
红外光谱显微镜 | C-H-O官能团包括有机质分析、矿物鉴定和碳氢化合物分析 | 抛光和光滑的表面,薄片,芯,岩屑 |
扫描电子显微镜(SEM)的能谱分析 | 对孔隙和结构进行微观分析,以详细表征主要元素和部分微量元素 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
自动化的矿物学 | 结合BSE和EDS进行高速大面积矿物图,以表征锆石的纹理、孔隙度、矿物组合、计算的物理性质(杨氏模量),并生成LA-ICP-MS的目标 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
用于扫描电子显微镜(SEM)的micro-XRF | 利用100 μ m x射线光斑提高扫描电子显微镜中的微量元素性能,这对于U和Mo等环境替代品尤为重要。 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。真空要求。 |
透射电子显微镜(TEM)能谱分析 | 主要元素和部分微量元素分辨率最佳。 | 专门的TEM薄片样品制备。 |
Nano-indentation | 台式或sem硬度测试,用于计算杨氏模量和其他物理参数 | 抛光和涂层薄片或SEM安装。有时需要真空。 |
原子力显微镜 | 一种用于近原子尺度表面表征的新兴工具可用于固体有机物的识别和表征 | 抛光薄片或安装,不需要真空 |
EBSD /跆拳道 | 详细的矿物图和晶体取向研究。 | 高度抛光的薄片和电子透明样品 |
x射线衍射 |
结晶相鉴别与定量 | 研磨粉末和平面 |