x射线计量化合物半导体

QC3

高分辨率x射线衍射系统外延层

历史悠久,被证实为外延层质量控制系统

Destaques

QC3

QC3是长期而良好为外延层质量控制系统。它是一种高分辨率x射线衍射的工具,是理想的质量控制。它用于外延层的组成和厚度测量几乎任何材料。T他系统使用标准密封管光学,加上各种梁的优化调节晶体,可以给最高的分辨率和结合强度为每个应用程序。

完整的300毫米的旅行
允许同时测量大晶片或几个小晶片

Caracteristicas

特性

自动操作

QC3提供真正的自动化操作,直接水平样本安装,和完全自动化校准、测量和数据分析。数据分析可以自动执行,或离线使用我们的流行拉德软件。样品阶段有一个完整的300毫米的旅行,允许大型晶片的测量,或同时几个较小的晶片。它是传统的工具在外延层生长质量控制测量的首选。

Apoio

支持

我们如何帮助?

bob电竞安全吗力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。

我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。

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