扫描隧道显微镜（STM）

1980年代在IBM扫描隧道显微镜（STM）的开发赢得了Gerd Binnig和Heinrich Rohrer 1986年诺贝尔物理学奖。该技术是随后发展到原子力显微镜（AFM）的基础。STM使用隧道电流测量表面电子状态的地形，该隧道电流取决于探针尖端和样品表面之间的分离。

STM通常在导电和半导体表面上进行。常见应用包括原bob平台靠谱吗子分辨率成像，扫描电化学势显微镜（SECPM）和低电导样品的低电流成像。