扫描隧道显微镜（STM）

20世纪80年代IBM扫描隧道显微镜（STM）的发展荣获Gerd Binnig和Heinrich Rohrer 1986年的物理学奖。该技术作为后续前进原子力显微镜（AFM）的基础。STM使用隧道电流测量表面电子状态的地形，这些电流取决于探针尖端与样品表面之间的分离。

STM通常对导电和半导电表面进行。常见应用包括原bob平台靠谱吗子分辨率成像，扫描电化学电位显微镜（SECPM），并且低电流成像较少的导电样品。