SEM的纳米材料的相位鉴定

布鲁克的Quobob电竞安全吗ntax之一eds/EBSD系统最受欢迎的功能是其EBSD和EDS技术的高级集成。出色的集成也适用于电子透明样品，在结合Eflash FS和独特的时特别功能Xflash^®扁平EDS检测器。这种组合提供了无与伦比的数据质量，空间分辨率和高吞吐量。尤其是与获得专利的TKD样品持有者和新发布的X射线面膜结合使用时。在此应用示例中，氧化物分散加长的铁素性合金证明了对模拟的必要性TKD和Xflash的eds测量^®进行相位识别以及晶体学相似阶段的区别。

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测量区域的明亮场Argus图像。样品是铁素体ODS钢的箔，检测到氧化物颗粒。在20 kV和6 Na下完成了TKD/EDS的组合测量。

EDS由Eflash FS和Xflash Flatquad的同时进行TKD/EDS测量结果。揭示了钛氧化钛颗粒的鉴定和分布。输出计数率为每秒100万个计数，即每频谱> 3000个计数。右：用于TKD样品持有人的X-Rella蒙版。它阻止了流浪X射线，可以从TKD样品中收集EDS信号。

EDS由Eflash FS和Xflash Flatquad的同时进行TKD/EDS测量结果。揭示了YTTRIUM氧化物颗粒的识别和分布。输出计数率为每秒100万个计数，即每频谱> 3000个计数。右：用于TKD样品持有人的X-Rella蒙版。它阻止了流浪X射线，可以从TKD样品中收集EDS信号。

EBSD方向分布结果（IPF Z MAP），索引命中率为87％。使用检测到的频段和定量光谱，离线进行氧化相识别，以优化在SEM所花费的时间。

EBSD相位与铁素铁矿，红色，绿色的立方钛和蓝色的三角形Yttria。EBSD相位图仅基于Kikuchi带索引：立方相之间的一些误解。

重新分析了EBSD相位图，但由于EDS量化援助而不会误解。