contourx - 500
ハ▪▪ラ▪▪ト
contourx - 500
contourx - 500光学式プロファイラー(三次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)は,高速で非接触の3次元表面形状測定を可能にする,世界で最も包括的なベンチトップ型自動測定システムです。ゲージ対応のcontourx - 500は卓越したZ軸の分解能と精度を誇り,ブルカーの白色光干渉計(WLI)のフロアスタンド型モデルの利点をすべて備えていますが,設置面積ははるかに小さくなっています。このプロファイラは,精密加工された表面や半導体プロセスのQA / QC計測から,眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで,幅広い複雑なアプリケーションのために簡単にカスタマイズすることができます。
特長
ブルカ，独自のベンチトップ型設計
ブルカー独自のティップ/チルト機能を搭載した顕微鏡ヘッドは,生産現場でのセットアップや検査において,比類ない柔軟性を提供します。顕微鏡ヘッドの光路にチップ/チルト機能を組み合わせることで,ブルカーは検査ポイントをチルトとは無関係に視線に結合します。これにより，オペレ，タ，の介入が少なくなり，最大限の再現性を得ることができます。その他のハードウェアの特徴としては,革新的なステージデザインにより,より大きなスティッチング能力を実現し,1200 x1000の測定アレイを備えた5 mpカメラにより,低ノイズ,広い視野,高い横方向の解像度を実現しています。これらの機能と自動ステージングおよび対物レンズの組み合わせにより,contourx - 500はコンパクトな設置面積でありながら,研究開発や産業用計測に理想的な環境を実現しています。
広範な分析への効率的なアクセス
カスタマイズされた数千もの分析結果と,ブルカーのシンプルでパワフルなVisionXpress™およびVision64®ユーザーインターフェースにより,contourx - 500は研究室や工場での生産性を高めるために最適化されています。ブルカーの新しいユニバーサル・スキャニング・インターフェロメトリ(USI)測定モードは,完全に自動化された,自己感知型の表面テクスチャ,最適化された信号処理を提供すると同時に,分析対象の表面トポグラフィを最も正確かつ現実的に計算します。
