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接触模式是探针尖端与样品表面持续物理接触的所有AFM技术的基础。当尖端沿表面扫描时,样品地形诱导了悬臂的垂直偏转。反馈回路将此挠度保持在预设的负载力下,并使用反馈响应来生成地形图像。
接触模式适合材料科学,生物应用和基础研究。bob平台靠谱吗它也是需要直接尖端样本接触的进一步SPM技术的基础