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接触模式是所有AFM技术的基础，在这种技术中探针尖端与样品表面保持恒定的物理接触。当尖端沿表面扫描时，样品的地形引起了悬臂的垂直偏转。反馈回路在预设的载荷力下维持这种偏转，并使用反馈响应生成地形图像。

接触方式适用于材料科学、生物应用和基础研究。bob平台靠谱吗它也可以作为需要直接接触尖端样品的进一步SPM技术的基础