AFM-IR与s-SNOM的比较

AFM-IR和s-SNOM是两种优势互补的技术。与nanoIR3-s，您可以选择具有一种或两种技术的配置，这取决于您的样本和测量需求。AFM- ir直接检测样品吸收的光，使用AFM探针尖端感知热膨胀。这种热膨胀主要取决于样品的吸收系数ks，而在很大程度上与尖端和样品的其他光学特性无关。因此，在需要精确吸收光谱的测量中，AFM-IR技术是首选的。由于这些材料的高热膨胀，AFM-IR在软物质研究方面表现出色。

s-SNOM检测直接在AFM探针尖下的纳米尺度区域散射的光。散射场依赖于尖端和样品的复杂光学常数，包含了丰富的纳米光学现象信息。参考样品(如金或硅)需要从源和尖端分离样品响应贡献。可能需要建模支持来解释结果。s-SNOM是一种引人注目的成像纳米尺度对比度光学特性的技术，在先进材料、器件和基本光/物质相互作用方面具有广泛的应用。bob平台靠谱吗s-SNOM最适用于与光强烈相互作用的坚硬材料。