AFM-IR和S-SNOM的比较

AFM-IR和S-SNOM是具有不同优势的互补技术。与nanoir3-s，您可以根据样品和测量需求选择具有一种或两者兼有的配置。AFM-IR使用AFM探针尖端直接检测样品吸收的光，以感知热膨胀。该热膨胀主要取决于样品的吸收系数KS，并且在很大程度上与尖端和样品的其他光学特性无关。因此，对于需要精确吸收光谱的测量，优选AFM-IR技术。由于这些材料的热膨胀，AFM-IR擅长软物质研究。

S-SNOM检测到直接在AFM探针尖端下方的纳米尺度区域散射的光。散射场取决于尖端和样品的复杂光学常数，并包含有关纳米光学现象的丰富信息。需要参考样品（例如黄金或硅）将样品响应贡献与源和尖端分开。可能需要建模支持来解释结果。S-SNOM是一种令人信服的技术，用于对光学性质中的纳米级对比进行成像，在高级材料，设备和基本光/物质相互作用中具有不同的应用。bob平台靠谱吗S-SNOM最适合与光线强烈相互作用的硬材料。