レイヤ厚変化のマッピング

x线を通过可能，，，，，，，，，は一般に层厚层厚の决定决定を可能。。マイクロxrfをする，スケールで空间解像を使用しし解析解析解析解析解析解析解析解析解析解析解析解析解析组成组成组成组成组成がががががが実现可能になりなりますますます。レイヤー解析はは，，原子の的的，でます。したがって，，，，，，，，，コーティングコーティングコーティングまたははんだはんだ层层のののような「一般的的ななな」」」层层システムシステムシステムはは，，，，，标准がが容易に入手可能测定することができ。