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使用唯一的轴心检测器同时在SEM中同时获取晶体学和元素信息

最快的同时进行TKD和EDS测量

bob电竞安全吗布鲁克的独特之处Xflash®扁平EDS检测器的超高实体角度为1.1 SR，可以同时使用擎天柱2为了从具有无与伦比的空间分辨率和速度的电子透明样品中获取包含化学和晶体取向数据的地图。

可以使用专为电子透明样品设计的方法来进行准确的定量EDS分析：

  • Cliff-Lorimer因子方法
  • zeta-factor方法

组合的ED和TKD测量是表征包含多个晶体学相的鲜为人知的样品，例如沉淀和/或夹杂物。合并的数据集可用于离线阶段识别和重新分析，并获得效率的巨大提高ESPRIT 2索引高达60,000个图案/秒的能力。

使用Xflash Flatquad EDS检测器（TOP），Optimus 2检测器头（底部）和TKD样品支架（中间），用于同时进行轴上TKD和ED映射的检测样本几何形状和ED映射
联系专家 了解有关轴心TKD的更多信息
Xflash Flatquad Eds检测器具有四个SDD芯片布局和一个直方图，显示其实体角度变化，并在SDD芯片和样品之间的距离差异
从氧化二氧化钛颗粒（亮灰色）和富含Yttrium的氧化钛颗粒（深灰色）中获得的氧化物分散剂强化（ODS）钢样品获得的BF状图像。使用5 Na探针电流和20 kV加速电压在3 s中获取图像。
TKD地图的模式质量图表示，同时获得EDS超图的速度为272分/秒。该测量的吞吐量计数率为约1 mcps。
EDS超图显示Ti分布（归一化原子％）
EDS超图显示Y分布（标准化质量％）
离线相位ID和重新分析后的最终相分布图（TKD结果）。铁氧体基质以红色显示，氧化钛颗粒以绿色显示，富含Yttrium的氧化钛颗粒以蓝色显示。
每个晶体学相的方向分布图（IPFZ）和相应着色方案