利用独特的轴上探测器同时获取扫描电镜中的晶体学和元素信息
最快的同时TKD和EDS测量
bob电竞安全吗力量的独特XFlash®FlatQUADEDS探测器具有高达1.1 sr的超高实心角，可与OPTIMUS 2用于从电子透明样品中获取包含化学和各自晶体取向数据的地图，具有无与伦比的空间分辨率和速度。
精确的定量EDS分析可以使用为电子透明样品设计的方法:
- Cliff-Lorimer-factor方法
- Zeta-factor-method
EDS和TKD联合测量是描述含有多种晶体相的未知样品的理想方法，例如沉淀和/或夹杂物。合并后的数据集可用于离线相位识别和再分析，具有极大的效率增益精灵2的索引能力高达60000个模式/秒。
使用XFlash FlatQUAD EDS探测器(上)、OPTIMUS 2探测器头(下)和TKD样品夹(中)同步轴上TKD和EDS映射的探测器-样品几何结构
XFlash FlatQUAD EDS探测器，其四个SDD芯片布局和直方图显示其立体角随SDD芯片与样品之间的距离的变化
从氧化物分散强化(ODS)钢样品中获得的bf样图像显示了铁素体颗粒基体中的氧化钛颗粒(亮灰色)和富钇氧化钛颗粒(深灰色)。采用5 nA探头电流和20 kV加速电压，在3 s内获得图像。
以272点/秒的速度与EDS超映射同时获取的TKD映射的模式质量映射表示。该测量的吞吐量计数率为~1 Mcps。
显示Ti分布的EDS超图(归一化原子%)
显示Y分布的EDS超图(归一化质量%)
离线相位识别和再分析后的最终相位分布图(TKD结果)。铁氧体基体为红色，氧化钛颗粒为绿色，富钇氧化钛颗粒为蓝色。
每个晶体相的取向分布图(IPFz)和相应的着色方案