XFlash 6 t-30

的XFlash^®6T-30是S/TEM具有最佳能量分辨率的探测器。由于其直径小(细线设计)，它特别适合用于空间有限的EDS检测器的情况，特别是用于较老tem上的EDS改造。多功能的XFlash^®6T-30满足所有分析人员的需求，从优异的几何条件(最佳起飞和最佳可能的立体角)到分析性能(轻元素或高计数率分析)。

总之，XFlash^®6T-30具有以下优点:

• 卓越的能量分辨率(Mn Kα时126 eV, C Kα时51 eV, F Kα时60 eV)
• 在Mn Kα下，其他可用分辨率为129 eV
• 极高的脉冲加载能力
• 优良的光元件和低能量性能(元件范围Be - Am)
• 焊接风箱为标准
• 没有产生振动的冷却系统
• 上电后立即可用
• 不需维护的操作
• 运营成本低
• 尺寸小，包括细线技术手指
• 低体重
• 可按要求提供无windows版本

XFlash的建议应用领域^®6 t-30是:

• TEM和STEM上所有类型的EDS分析，包括像差校正电子显微镜