XFlash 6 t-30

用于常规和像差校正TEM的中型SDD
XFlash 6T-30探测器

的XFlash®6T-30是S/TEM能量分辨率最好的探测器。由于其直径小(细线设计),特别适合用于EDS探测器空间较小的情况,特别是用于老式tem上的EDS改造。多功能XFlash®6T-30满足所有分析人员的需求,从优异的几何条件(最佳起飞和最佳可能的立体角)到分析性能(轻元素或高计数率分析)。

总之,XFlash®6T-30具有以下优点:

  • 优异的能量分辨率(Mn Kα时可提供126 eV, C Kα时可提供51 eV, F Kα时可提供60 eV)
  • 其他可用的分辨率为129ev在Mn Kα
  • 极高的脉冲加载能力
  • 优良的轻质元件和低能耗性能(元件范围Be - Am)
  • 焊接波纹管为标准
  • 没有振动冷却系统
  • 上电后立即可用
  • 不需维护的操作
  • 运营成本低
  • 小尺寸,包括纤细的技术手指
  • 低体重
  • 无视窗版本可按要求提供

XFlash的建议应用领域®6 t-30是:

  • 所有类型的TEM和STEM能谱分析,包括像差校正电子显微镜