x射线缺陷检验

jvsensus - 600 f

对任何技术节点的工艺工具进行认证和监控,以减少周期时间,促进晶圆厂的扩展

x射线衍射成像(XRDI)检测系统

做marquants

jvsensus - 600 f

jvsense - 600f是300mm Si器件制造商的x射线缺陷测量系统。它帮助识别使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术在晶圆生产过程中遇到的问题。bob平台靠谱吗应用包括监控边缘损伤,以防止超快退火过程中昂贵的晶圆断裂。它可以在任何技术节点上验证和监控工艺工具,这减少了周期时间,促进了晶圆厂的扩展。

的特性

特性

容易识别晶体缺陷

JVSensus使用户能够在晶圆破裂发生之前,识别可能导致灾难性结构故障的裂纹和其他缺陷。一旦缺陷被观察到,无损截面检查图像可以在晶圆深度内定位缺陷位置。

测量有图案的晶圆

测量可以在不需要样品制备的情况下,在毯状、图案化和金属化晶圆上进行。即使晶圆上有图样,缺陷也可以被识别出来。

检测滑

覆盖问题的主要原因是滑动。无论是逻辑模式晶圆,GaN on Si或锭片,JVSensus可以在几分钟内检测到滑移。

支持

支持

我们如何提供帮助?

bob电竞安全吗Bruker与客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务持续下去,直到工具被出售。

我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级,以及应用支持和培训,使您的生产力最大化。

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