椭圆计和反射计
多模态薄膜计量工具在复杂测量要求的应用中具有无与伦比的性能bob平台靠谱吗
与一般
用于特种薄膜分析的灵活、非接触式计量系统
凭借独家的专利技术，Bruker的广泛的FilmTek系列产品能够在更多的薄膜类型和厚度上进行更精确和可重复的测量，可执行光谱椭偏法和反射法、多角度反射法和反射透射分光光度法。bob电竞安全吗这些仪器设计为高效率的按钮操作，使用户能够快速、准确和无损地测量薄膜厚度和折射率，以及结构的关键尺寸和基片的总厚度变化，广泛的单层和多层薄膜的层厚从超薄(下降到<1 Å)到极厚(高达350 μm)。可测量的样品包括，除其他外，金属，半导体，非晶，晶体和介电材料在几乎任何基底上。
FilmTek椭偏仪和反射仪系统有多种标准和可定制配置，从手动台式仪器到全自动生产线就绪模型。这些系统包括单一技术和多模式系统，它们结合了我们的核心技术，并通过附加的技术集成增强了它们的能力。通过在世界顶级的开发实验室和工业生产车间安装系统，这些计量工具拥有最高的精度和折射率分辨率，用于许多厚、薄和多层薄膜的应用，这是其他计量系统不可实现的，适用于从学术研究和研发到受控环境下的大批量制造等设置。bob平台靠谱吗
