快速，准确和精确的定量结果使用环形硅漂移探测器:布鲁克的XFlash FlatQUADbob电竞安全吗

硅漂移探测器(SDDs)已成为能量色散x射线光谱学(EDS)使用扫描电子显微镜(sem)和电子探针微量分析仪(EPMAs)。环形SDDXFlash^®FlatQUAD是一个独特的SDD，插入极片和样品之间，而不是在SEM的倾斜端口。因此，它具有较大的实心角(1.1 sr)，通常比传统设置中使用10 mm²SDD的实心角大100倍。x射线从四个独立的探测器段收集，信号由四个探测单元并行处理，允许在低死区时间内实现高计数率，从而实现每秒超过240万次(cps)的最大输出计数率，用于高速绘图和快速光谱收集。此外，这种几何形状最大限度地减少阴影影响，因此非常适合分析地形复杂，三维和光束敏感的样品。即使在最低束流电流(<10 pA)下，也可以在自然状态下的高真空下研究未镀膜、束流敏感和不导电的样品。

在本次网络研讨会中，我们将展示使用XFlash^®FlatQUAD快速可靠的定量结果，包括基于标准和标准自由定量方法。结果将使用其他分析技术与已知发表的结果进行比较。此外，还将介绍高速绘图的示例，例如具有高地形的光束敏感样品或如何在几分钟内绘制完整的薄片。

• 对扫描电镜能谱分析技术感兴趣的所有分析领域的科学家
• 研究人员处理地形复杂、三维和光束敏感的样品