快速，准确和精确的定量结果使用环形硅漂移检测器:布鲁克的XFlash平板bob电竞安全吗

硅漂移探测器(sdd)已成为能量色散x射线光谱学(EDS)使用扫描电子显微镜(sem)和电子探针微量分析仪(epma)。环形SDDXFlash^®FlatQUAD是一种独特的SDD，插入极片和样品之间，而不是在SEM的倾斜端口。因此，它具有较大的立体角(1.1 sr)，通常比传统设置中使用10 mm²SDD的立体角大100倍。x射线从四个独立的探测器段收集，信号由四个检测单元并行处理，在低死区时间允许高计数率，导致最大输出计数率超过每秒240万次(cps)，用于高速制图和快速光谱收集。此外，这种几何结构最大限度地减少了阴影效应，因此非常适合分析地形复杂、三维和光束敏感的样品。即使在最低的光束电流(<10 pA)下，也可以在自然状态下在高真空下研究无涂层、光束敏感和不导电的样品。

在本次网络研讨会中，我们将展示使用XFlash^®FlatQUAD提供快速可靠的定量结果，包括基于标准和无标准的定量方法。结果将与使用其他分析技术发表的已知结果进行比较。此外，还将介绍高速测绘的示例，例如具有高地形的光束敏感样品或如何在几分钟内绘制完整的薄片。

• 对SEM的EDS技术感兴趣的所有分析领域的科学家
• 研究地形复杂、三维和光束敏感样品的研究人员