ScanningWear

磨损模式是通过光栅扫描样品与给定的力，由用户预定义。一次扫描可以由一次测试中对同一区域的一次或多次扫描组成。

通过施加已知的力并选择施加该力的孔道数，可以在测试后使用原位成像技术测量磨损扫描过程中去除的材料量。

ScanningWear能够在不同的负载下磨损，并在一个样品上进行多个磨损实验，如图1所示。这个实验涉及几个单独的磨损测试，在增加负载和通过硬盘驱动器的DLC膜涂层的次数。使用原位成像测量每次磨损试验中去除的材料量(见图2)。

原位SPM成像所提供的精确定位也使表面的纳米加工和纳米制模成为可能，如图3所示。在这项研究中，纳米机械在氧化镧中制造了两种磨损模式。一种是5 μm × 5 μm的正方形图案，另一种是1.25 μm × 5 μm的矩形图案。图案间距小于1 μm，去除氧化层，选择性地显示衬底。