XFlash®7 -新型EDS探测器系列
元素分析
QUANTAX EDS用于扫描电镜
SEM, FIB-SEM和EPMA的能谱分析
XFlash®扫描电子显微镜的EDS检测器
实现无与伦比的分析速度!
量化最复杂的数据使用最全面的原子数据库，包括K, L, M和N线!
用生成x射线的最佳几何收集效率最大化您的样品吞吐量!
TEM的定量分析
纳米尺度的透射电子显微镜元素分析
XFlash®7T -用于TEM, STEM和T-SEM的EDS检测器
识别和量化所有目前的元素明确支持更高的能量元素线!
成功的TEM, STEM和T-SEM与易于使用的强大的量化程序，基于理论和实验克里夫-洛里默因子，以及zeta因子插值!
映射周期结构(原子，层)具有高稳定性和舒适的非周期特征支持专用漂移校正例程!
