Hysitron TS75 TriboScope
为原子力显微镜提供定量、刚性探针的纳米压痕和纳米摩擦测试
亮点
Hysitron TS75 TriboScope
布鲁克的Hysitron TS 75 TriboScope纳米压痕仪为原子力显微镜领域提供了定量,刚性探针的纳米压痕和纳米摩擦表征能力。Hysitron TriboScope与布鲁克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8联用，以扩展这些显微镜的表征能力。通过利用刚性测试探针,TriboScope消除了与悬臂基测量相关的固有限制,可变性和复杂性,从而在纳米到微米尺度上提供定量和可重复的力学和摩擦特性。
定量
刚性探针
消除基于弹性悬臂的纳米压痕测试技术固有的不确定性和复杂性。
专有
电容式传感器技术
提供对纳米压痕过程的卓越控制，并提供业界领先的力和位移噪声水平。
直观
联用接口
可简便与流行的商用AFM的集成,包括布鲁克的维度图标,维边缘和多模8等。
特点
刚性探针优势
大多数原子力显微镜(AFM)利用适当的悬臂进行力学或摩擦学测试,在将悬臂的弹性和旋转刚度与材料对施加应力的反应分离方面提出了重大挑战。TriboScope采用刚性测试探头组件，允许在测试期间直接控制和测量施加的力和位移。
专有静电力驱动
TriboScope利用专有的静电力驱动和电容位移感传感器技术,提供业界领先的噪声水平和低热漂移,从而将性能描述到纳米级的极限。
力和位移反馈控制
TriboScope在闭环力控制或位移控制下工作。TriboScope利用78 kHz反馈环路速率,可以响应快速材料变形瞬态事件,并忠实地再现操作员定义的测试功能。
