散射斯诺姆
s-SNOM技术提供有关样品纳米尺度区域复杂光学特性的信息
红外散射扫描近场光学显微镜
该技术提供有关金属化尖端下样品纳米级区域的复杂光学特性的信息。具体来说，可以测量散射光的光学振幅和相位。
使用适当的模型，这些测量可以估计材料的复杂光学常数(n, k)。此外，光相与波长的近似值与通常放牧发生率的传统红外吸收光谱相约。
s-SNOM技术适用于各种材料,但噪声的最佳信号往往适用于反射率高,介电常数高和/或强光共振的较硬材料。
10nm空间分辨率化学成像和光谱
石墨烯
石墨烯楔子上的表面极性(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左)s-SNOM相位,带SPP站立波的线横截面;(右)s-SNOM振幅。顶部图像是相位图像的3d视图(左图)。
高分辨率属性映射
通过石墨烯片的横截面显示低于10nm分辨率的光学特性成像。
最高性能纳米ftir光谱
性能最高的红外SNOM光谱仪，提供最先进的nanoIR激光源。
- 纳米ftir光谱与集成dfg，基于连续的激光源
- 宽带同步加速器光源集成
- 用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源
超快宽带散射snom光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯(ptfe)的激光干涉图显示时域中自由感应衰变形式的相干分子振动(顶部)。样品干涉图中突出显示的特征是由于在生成的频域(左下)中c-f模式的对称和反对称模式的跳动。在单层pNTP(右下)上演示了纳米FTIR的单层灵敏度。数据由美国博尔德科罗拉多大学的马库斯·拉施克教授提供。
将s-snom和afm-ir相结合，创建出色的新数据
哈尼卡耶夫等人，nat . com .7,12045('16) .Doi:10.1038/ncomms12045
互补的afm-ir和散射snom图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。通过访问关于质的结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息,可以获得独特且互补的质质属性。
nanoIR3-s扩展到可见，THz和同步加速器光束
- nanoIR3-s支持可见SNOM成像
- 系统支持THz成像和光谱
- 特殊设计可用于同步加速器
- 轻松更换激光设置，以最大限度地延长测量时间
- 简单的交换光学元件和探测器
使用633nm HeNe激光使用s-SNOM进行可见成像。
无需复杂的光学校准
- 获得专利的自适应光束转向和所有反射光学器件可实现宽波长兼容性，同时消除不同波长的重新调整和重新聚焦
- 获得专利的动态功率控制在广泛的源、波长和样品上保持最佳功率和信号
- 预安装探头和电动尖端、样品和源对齐消除了探头安装和重新优化中的繁琐步骤
