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复合半导体的X射线计量学

RADS软件

可以快速准确的XRD测量分析的软件

bob电竞安全吗Bruker Rads是该行业中最受信任的软件,用于模拟和分析单晶基板上外延薄膜结构的高分辨率X射线衍射(HRXRD)数据。它是用于研发,生产和学术界的首选软件,可详细分析简单和复杂的结构。

RADS软件为用户提供了多种工具,可实现准确而快速的XRD测量分析。通过自动计算过程参数,并立即处理对生产的反馈,RADS软件是从头开始设计的,以改善过程和产量结果。自1991年以来,这种功能的独家组合使RAD成为领先的过程监视和分析软件。

新的功能

  • 主题GUI,允许用户选择该程序的外观(Bede,Jordan Valley和两者的混合体)
  • 增加了对粘合的SOI底物的支持
  • 增强了缺陷散射模型,以包括镶嵌模型以及由于离子植入物引起的随机原子位移的影响
  • 允许使用共同的结构模型同时拟合来自不同反射的两个测量数据集
  • 包括显示各种参数的深度配置文件的能力,例如组成
  • 可以在HTML,PDF,RTF和其他各种格式中创建印刷报告
  • 提高批处理处理能力
  • 支持多核处理器,以及分配给任何特定核心/CPU的能力。

规格

  • 采用X射线衍射的动力学理论(Takagi-Taupin)进行准确的模拟
  • 使用现代处理器上可用的SSE2/3说明进行快速模拟。模拟和拟合的运行速度将比同一计算机上的V3.X快左右。
  • 包括专利的数据拟合技术,用于可靠的多层结构自动分析
  • 轻松使用电子表格式图层列表(包括超级晶格)来创建模型结构
  • 允许用图层参数方程式指定任意组成和应变曲线
  • 层参数链接以简化复杂多层结构的分析
  • 广泛的内置和材料数据库,也可以是用户定制的
  • 模型在非001立方材料上的外延,例如(110)和(111)的底物上的层;还支持巴塞尔平面(C-Plane)面向的六角形材料
  • 模拟现实的工具条件
  • 精致的科学图形和输出功能
  • 支持各种数据文件格式(Inc。JordanValley,Bede,Bruker,Panalytical)bob电竞安全吗
  • 支持将合适的结果写入关系数据库
  • 多个实验数据文件的批处理分析
  • 提供集成的宏语言和强大的自动化功能
  • 支持Windows XP,Vista和7