M6的地方
大面积高清晰度微xrf扫描仪
移动元素分析
超快的映射
Destaques
2 x60
mm²
SDD大小
双硅漂移探测器选项，最快的采集
80年x60
cm²
能扫描的表面
一次运行映射更大的样本
100 - 500
µm
可调节光斑大小
光斑的大小可以在五个步骤中调整，以匹配样品的结构
大面积微x射线荧光技术的最新进展
大样品上的微x射线荧光(也称为宏观x射线荧光或MA-XRF)已经成为绘画、地质样品、考古文物和工业部件分析的决定性方法。M6 JETSTREAM驱动这些分析达到最高的速度和准确性。M6 JETSTREAM具有可移动轴距和可调节框架，可以在现场使用，而不是将样品运输到实验室。
- 垂直样品或水平表面的测量
- 可扫描面积达800 x 600毫米²
- “动态”分析以获得最高的映射速度
- 可调光斑大小以匹配样品的结构
- XFlash®SDD技术具有高达2 x 60毫米²的探测器面积
- 可选光圈管理系统(自动对盘及成交系统)以获得对凹凸不平表面的聚焦深度
锻炼耐力
M6 JETSTREAM带给你什么?
李金华等，《牙齿龙的微x射线荧光研究》，原子光谱学2021 42(1)
- 获取几乎任何表面元素分布的空间解析信息
- 在一次运行中记录大范围的数据
- 在一个HyperMap数据集中，将高分辨率光学图像与每像素的全光谱相结合
- 处理数据和提取物体光谱，线扫描和化学相从地图
- 用无标准基本参数(FP)方法量化光谱
- 通过避免物流和确保贵重物品的安全，减少成本和时间
Aplicacoes
Especificacoes
技术细节
| 高达100毫米/秒级速度 | 映射可以“在飞行中”进行，每个像素的停留时间可达1毫秒 | ||
| 30mm²或60mm²sd≤145 eV | M6 JETSTREAM可以配备不同的Bruker XFlash®探测器，所有的探测器在Mn Kbob电竞安全吗α≤145 eV | ||
| 垂直测量模式下±10°倾斜 | 除了在水平和垂直测量之间的90°倾斜，钻机可以倾斜在精细的步骤，以调整倾斜表面 |
