Xflash 6-10

最新一代X射线检测器的核心部分是一种根据漂移室原理起作用的硅芯片。

由于带有集成电荷放大器的特殊芯片设计，xflash^®可以处理非常高的计数速率，同时表现出极好的能量分辨率，这是由任何其他基于硅的能量分散X射线检测器无与伦比的。

总而言之，Xflash^®6-10提供以下优势：

• 出色的能源分辨率（限量版在MNKα处有121 eV，CKα的38 eV和FKα的47 eV）
• 其他可用的分辨率是MNKα的123、126和129 eV
• 极高的脉搏负载能力
• 出色的光元和低能量性能（BE -AM元素范围）
• 没有精心制作的振动生成冷却系统
• 电源后立即可用
• 低工作成本
• 无维护操作
• 小尺寸，包括细线技术手指
• 重量低

建议的Xflash申请领域^®6-10是：

• EDS SEM，Microprobe，Fib-Sem的系统（作为选项可用的焊接波纹管）
• 轻元素和低能范围分析